基于太赫兹时域光谱技术的涂层厚度无损测量系统研制
· 2022-08-25
研究周期：18个月 主要研究内容： 1）时域太赫兹光谱测厚系统主机集成化设计； 2）时域太赫兹光谱测厚系统手持探头光路设计与集成； 3）时域太赫兹光谱测厚系统软件设计开发。 成果交付： 1）太赫兹无损检测及测厚系统1套（台）（归属201所）； 2）技术总结报告1份； 3）检测应用规范1份（归属201所）； 4）时域太赫兹测厚软件1套（归属201所）。
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